GB/T12604.1—2020 標(biāo)準(zhǔn)中與超聲波檢測設(shè)備相關(guān)的術(shù)語

5.1儀器

5.1.1超聲檢測儀 ultrasonie instrument

與一個(gè)或多個(gè)探頭(5.2.1)一起使用,用以發(fā)射、接收、處理和顯示超聲信號(hào)進(jìn)行無損檢測的儀器

5.1.2發(fā)射器 transmitter

能產(chǎn)生發(fā)射脈沖(5.1.3)的電子裝置。

5.1.3發(fā)射脈沖 transmitter pulse超聲檢測儀(5.1.1)的發(fā)射器產(chǎn)生的、用以激發(fā)換能器(4.1.1)的電脈沖

5.1.4接收器 receiver

接收超聲探頭信號(hào)并放大為可用信號(hào)的電子裝置，

5.1.5放大器 amplifier

轉(zhuǎn)化小信號(hào)為較大信號(hào)的電子裝置。注:可以是按線性關(guān)系放大的線性放大器或按對(duì)數(shù)關(guān)系放大的對(duì)數(shù)放大器，

5.1.6衰減器 attenuator

降低信號(hào)幅度(3.2.2)或能量且不產(chǎn)生畸變的電子裝置。

5.1.7增益 gain

信號(hào)的放大倍數(shù)。注:常以分貝(dB)表示。

5.1.8增益控制 gain control

調(diào)節(jié)信號(hào)到適當(dāng)?shù)母叨鹊目刂破鳎?/p>

5.1.9動(dòng)態(tài)范圍 dynamic range

超聲檢測儀(5.1.1)在不產(chǎn)生畸變的情況下可顯示的最大和最小信號(hào)幅度(3.2.2)之比。注:常以分貝(dB)表示。

5.1.10幅度線性linearity of amplitude，垂直線性vertical linearity

信號(hào)幅度與其在超聲檢測儀顯示器上的垂直高度之間成正比關(guān)系的程度。

5.1.11抑制suppression

通過去除幅度低于某一預(yù)定水平(閾值)的所有指示(6.5.14)信號(hào)以降低噪聲的功能。

5.1.12時(shí)間增益修正time corrected gain:TCG

距離幅度補(bǔ)償 distance-amplitude compensation

檢測儀中通過改變來自相同尺寸但不同距離處的反射體(6.4.1)的回波的放大倍數(shù),從而使這些回波在顯示器上具有同樣高度的功能。

注1:不同于距離幅度曲線(DAC)(6.8.15)。注 2:與另一時(shí)間增益修正(6.8.16)的定義不同。

5.1.13模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器 analogue-to-digital converter

轉(zhuǎn)換模擬信號(hào)為表征信號(hào)波形的離散數(shù)字信號(hào)的裝置。

5.1.14模數(shù)轉(zhuǎn)換誤差 digitization error

由模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換帶來的不準(zhǔn)確性。

5.1.15時(shí)基線 time base

在顯示器上按時(shí)間或聲程距離標(biāo)定的A型顯示的橫坐標(biāo)注:見圖 21。

5.1.16時(shí)基線控制 time base control

調(diào)整時(shí)基線(5.1.15)至一預(yù)選的距離范圍的控制器。

5.1.17時(shí)基線范圍 time base range

在一特定的時(shí)基線(5.1.15)上所能顯示聲程的最大長度。

5.1.18時(shí)基掃描延遲 delayed time base sweep

以相對(duì)于發(fā)射脈沖(5.1.3)或參考回波(5.4.4)一固定或可調(diào)的延遲時(shí)間觸發(fā)時(shí)基線的掃描方式。

5.1.19時(shí)基線性linearity of time base、水平線性horizontal linearity

反射體的位置和信號(hào)在超聲檢測儀時(shí)基線(5.1.15)上的顯示位置之間呈正比關(guān)系的程度。

5.1.20監(jiān)視器 monitor

能提供閘門(5.1.21)以指示閘門內(nèi)高于或低于指定水平的回波(6.5.1)的超聲檢測儀(5.1.1)的組成部分。

5.1.21閘門 gate/時(shí)間閘門 time gate/時(shí)間窗 window

用電子學(xué)方法選擇的,用以監(jiān)視其中的信號(hào)或作進(jìn)一步處理的時(shí)基線(5.1.15)的一段區(qū)域。

5.1.22閘門閾值 gate threshold/監(jiān)視水平 monitor level

規(guī)定的在閘門(5.1.21)中高于或低于此水平的回波(6.5.1)信號(hào)可被選出作進(jìn)一步處理的幅度水平。

5.1.23比例閘門proportional gate

按比例輸出閘門內(nèi)接收到的任何信號(hào)的閘門(5.1.21)注:輸出可為電壓或電流。

5.2 探頭

5.2.1探頭 probe通常由一個(gè)或多個(gè)換能器(4.1.1)組成[有時(shí)還包含延遲塊(5.2.7)的,用以發(fā)射或接收或者既發(fā)射又接收超聲波(3.2.1)的電-聲轉(zhuǎn)換器件。

5.2.2單晶片探頭 single-transducer probe

只有一個(gè)用于發(fā)射和接收超聲波的換能器(4.1.1)組成的探頭(5.2.1)。

5.2.3多晶片探頭 multi-transducer probe

具有多個(gè)換能器(4.1.1)的、可通過開關(guān)產(chǎn)生特定形狀聲束(4.2.2)的探頭(5.2.1)。

5.2.4換能器背襯 transducer backing

襯在換能器(4.1.1)背面以增加阻尼的材料。注:見圖 9、圖 10 和圖 12.

5.2.5探頭靴 probe shoe

插入在探頭(5.2.1)和試件之間具有一定形狀的,用以改善耦合和(或)防護(hù)探頭的材料塊。

5.2.6保護(hù)層 protection layer

構(gòu)成探頭(5.2.1)組成部分的、避免換能器(4.1.1)和試件直接接觸的一層保護(hù)材料。注:見圖9。

5.2.7延遲塊 delay line;delay block

用于形成延遲聲程(5.2.8)的組件。

5.2.8延遲聲程 delay path

聲束軸線(4.2.3)上換能器(4.1.1)至檢測面人射點(diǎn)之間的聲程。

5.2.9標(biāo)稱換能器尺寸 nominal transducer size

換能器(4.1.1)單元的物理尺寸。

5.2.10有效換能器尺寸 effective transducer size

與實(shí)際聲場(4.2.1)相對(duì)應(yīng)的、小于其物理尺寸的換能器(4.1.1)面積。

注:有效換能器尺寸由測得的焦距(4.2.13)、頻率(3,1.1)、聲速(4.2.19)和聲東角(5.2.15)[斜探頭(5.2.13)]確定。

5.2.11斜楔 wedge

置于換能器與試件之間的且與兩者有聲接觸的,可使聲束(4.2.2)以給定角度折射進(jìn)入試件的特殊的楔形件(常用塑料制作)。注:見圖 10。

5.2.12直探頭 straight-beam probe;normal-beam probe

聲東軸線(4.2.3)垂直于檢測面的探頭(5.2.1)。注:見圖 9。

5.2.13斜探頭 angle-beam probe

聲東與檢測面(6.2.1)不垂直的探頭(5.2.1)。注:見圖 10。

5.2.14可變角探頭 variable-angle-beam probe

聲東角度可以改變的探頭(5.2.1)。

5.2.15聲束角 beam angle

對(duì)于指定的探頭(5.2.1),聲東軸線(4.2.3)與界面(4.4.1)法線之間的夾角。注:見圖 10。

5.2.16探頭入射點(diǎn) probe index point

聲東軸線與探頭接觸面的交點(diǎn)，注1:圖 10 和圖 16。注 2:探頭人射點(diǎn)的投影可能會(huì)標(biāo)注于斜探頭(5.2.13)的封裝上。

5.2.17探頭標(biāo)稱角 nominal probe angle

對(duì)于給定的材料和溫度所標(biāo)出的探頭(5.2.1)折射角數(shù)值。

5.2.18探頭軸線probe axis

當(dāng)描述探頭的方向性時(shí),作為角度坐標(biāo)起始點(diǎn)的、穿過探頭(5.2.1)且垂直于換能器表面的參考軸線。注 1:見圖 11。注 2:對(duì)于直探頭(5.2.12),探頭軸線垂直于檢測面(6.2,1)。對(duì)于斜探頭(5.2.13),探頭軸線投影于檢測面。

5.2.19偏向角 squint angle

探頭軸線(5.2.18)與聲東軸線(4.2.3)在檢測面(6.2.1)上投影之間的角度。注:見圖 11。

5.2.20縱波探頭longitudinal wave probe;compression wave probe

發(fā)射和(或)接收縱波(3.3.1)的探頭(5.2.1)。

5.2.21橫波探頭transverse wave probe:shear wave probe

通常利用折射(4.4.4)引起的波型轉(zhuǎn)換(4.4.14)實(shí)現(xiàn)橫波(3.3.2)的發(fā)射和(或)接收的探頭(5.2.1)。

5.2.22表面波探頭surface wave probe

產(chǎn)生和(或)接收表面波(3.3.3)的探頭(5.2.1)。

5.2.23曲面探頭 contoured probe

接觸面形狀適應(yīng)于試件曲面的探頭(5.2.1)。

5.2.24聚焦探頭 focusing probe

通過使用特殊裝置(如具有某種形狀的換能器、透鏡、電子學(xué)處理裝置等),使聲束(4.2.2)會(huì)聚產(chǎn)生聚焦聲東或焦點(diǎn)的探頭(5.2.1)

5.2.25串?dāng)_ cross talk

穿過預(yù)制的聲隔離層或電隔離層產(chǎn)生的信號(hào)干擾。

注 1:電串?dāng)_例如,超聲檢測儀(5.1.1)中相鄰的發(fā)射和接收通道間的串?dāng)_。

注 2:聲串?dāng)_例如,探頭(5.2.1)之間或換能器(4.1.1)[雙晶探頭(5.2.26)之間的串?dāng)_。

5.2.26雙換能器探頭 dual-transducer probe

雙晶探頭 dual-element probe

具有單獨(dú)的、在電氣和聲學(xué)上互相隔離的發(fā)射和接收換能器(4.1.1)的探頭(5.2.1)。注:見圖 12。

5.2.27屋頂角roof angle

雙換能器探頭(5.2.26)兩換能器面法線間夾角之半，注:見圖 13。

5.2.28會(huì)聚區(qū)convergence zone

雙換能器探頭(5.2.26)發(fā)射聲束與接收聲東的相交區(qū)。

5.2.29液浸探頭 immersion probe

可浸在液體中使用的、能發(fā)射和接收縱波(3.3.1)的探頭(5.2.1)。

5.2.30輪式探頭 wheel probe一個(gè)或多個(gè)換能器(4.1.1)安裝在注滿液體的柔韌輪胎中,超聲波(3.2.1)通過輪胎的滾動(dòng)接觸面與檢測面相耦合的一種探頭(5.2.1)。

5.3 組合設(shè)備

5.3.1檢測設(shè)備 test equipment由超聲檢測儀(5.1.1)、探頭(5.2.1)、電纜,以及在檢測時(shí)與檢測儀相連接的所有器件組成的設(shè)備。

5.3.2超聲檢測系統(tǒng) ultrasonie test system;UT system

      實(shí)現(xiàn)工件超聲檢測的機(jī)電系統(tǒng)。

5.3.3盲區(qū) dead zone

緊鄰檢測面下不連續(xù)不可被檢測的區(qū)域，注:盲區(qū)的深度取決于多個(gè)因素,例如探頭(5.2.1)、儀器設(shè)置、試件。

5.3.4 系統(tǒng)靈敏度 detection sensitivity

用最小可檢出反射體(6.4.1)來度量的超聲檢測系統(tǒng)(5.3.2)性能。

5.3.5 橫向分辨力 lateral resolution

超聲檢測系統(tǒng)(5.3.2)對(duì)兩個(gè)位于相同檢測距離目標(biāo)的分辨能力。

5.3.6 縱向分辨力 axial resolution

超聲檢測系統(tǒng)(5.3.2)對(duì)兩個(gè)位于不同檢測距離目標(biāo)的分辨能力。

5.4 標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊和測試試塊

5.4.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊calibration block

用以評(píng)定和校準(zhǔn)超聲檢測設(shè)備(5.3.1),具有規(guī)定的化學(xué)成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊。

5.4.2 對(duì)比試塊reference block

參考試塊與試件或被檢材料聲學(xué)特性相似、含有意義明確參考反射體(6.4.1)、用以調(diào)節(jié)超聲檢測儀(5.1.1)的幅度和(或)時(shí)基線(5.1.15),以將所檢出的不連續(xù)信號(hào)與已知反射體(6.4.1)所產(chǎn)生的信號(hào)相比較的試塊。

5.4.3 測試試塊 test block

用于測試超聲檢測系統(tǒng)(5.3.2)精度和(或)性能的材料塊

5.4.4 參考回波 reference echo

來自規(guī)定的參考反射體(6.4.2)的回波(6.5.1)，注:見圖 14。

5.4.5 傳輸修正 transfer correction

為補(bǔ)償標(biāo)準(zhǔn)試塊(5.4.1)或參考試塊(5.4.2)與試件之間的聲特性差異,對(duì)超聲檢測儀(5.1.1)增益調(diào)節(jié)所作的修正。

注:該修正量包含了由于耦合、反射和衰減(4.3.1)引起的損失。