測(cè)厚儀包含膜厚儀，膜厚儀一般稱為涂層測(cè)厚儀，專門測(cè)量薄件。

常用的涂層測(cè)厚儀的種類

●激光測(cè)厚儀

●超聲波測(cè)厚儀

●X射線測(cè)厚儀

●電解式測(cè)厚儀

涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型：

1.磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測(cè)量精度高。

2.渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。

3.超聲波測(cè)厚法：目前輛還沒有此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。

4.電解測(cè)厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測(cè)量起來比較其他幾種麻煩。

國(guó)內(nèi)目前使用最為普遍的是第1/2兩種方法。

磁性測(cè)厚儀

磁性測(cè)厚儀一體式儀器結(jié)構(gòu)，可以單手操作。它采用電磁感應(yīng)原理，適用于測(cè)量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，可以測(cè)量鋼鐵上的各種電鍍(鍍鎳除外)、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度，還可用于測(cè)量各種金屬箔(如銅箔、鋁箔、金箔等)和非金屬薄膜(如紙張、塑料等)的厚度。本儀器可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

渦流測(cè)厚儀

渦流測(cè)厚儀是一種小型儀器，采用渦電流測(cè)量原理，可以方便無損地測(cè)量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽極氧化膜厚度等。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

渦流測(cè)量原理

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

1、塑料上的銅、鉻層：建議用庫侖法測(cè)厚儀(會(huì)破壞鍍層)或X射線測(cè)厚儀(無損測(cè)量)，如銅層在10m~200m可考慮電渦流法測(cè)厚儀(無損測(cè)量)。

2、金屬件上鍍鋅層：如在鋼鐵基體上應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的磁感應(yīng)法測(cè)厚儀(無損測(cè)量)。其它金屬基體用庫侖法測(cè)厚儀(會(huì)破壞鍍層)或X射線測(cè)厚儀(無損測(cè)量)。

3、鐵基體上的電泳漆，油漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的磁感應(yīng)法測(cè)厚儀(無損測(cè)量)。其它金屬基體上的電泳漆，油漆應(yīng)使用經(jīng)濟(jì)的電渦流法測(cè)厚儀(無損測(cè)量)。

4、干膜是指己固化了的油漆涂層。

5、鍍鉻層參考2項(xiàng)、1項(xiàng)。

6、車內(nèi)外飾件噴漆只有用切鍥法(PIG，會(huì)破壞涂層)，超聲波法(無損測(cè)量)可測(cè)10微米以上涂層，但有時(shí)測(cè)不到。

測(cè)量注意事項(xiàng)：

⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。